EMC設計 - Microchip(微芯半導體)
EMC設計 - Microchip(微芯半導體)產品應用領域
通過設計的力量
在努力滿足嵌入式設計者的需求，硅制造商的物理尺寸和成本降低的同時，繼續(xù)增加的功能和性能。 嵌入式設計人員和最終消費者提供了一個顯著的好處，但由于復雜的消費電子和嵌入式產品的需求不斷擴大，所以沒有正確地設計應用程序的挑戰(zhàn)。 嵌入式設計人員不僅要相抗衡的產品規(guī)格，但作為電子繼續(xù)演變成“更小，更快，更便宜”，這樣做不必要的干擾，從外部電源，否則被稱為EMI（電磁干擾）的固有敏感性。 EMI可以肆虐的結果，從簡單的水所造成的滋擾，在產品的操作災難性的失敗造成停止在產品功能上的嵌入式應用程序。 無論是整合電子智能產品，如電動牙刷，或滿足醫(yī)療設備的高標準要求，創(chuàng)造最電的魯棒性設計仍然是必要的，但有時充滿挑戰(zhàn)的努力。 作為一個嵌入式系統(tǒng)設計中，必須優(yōu)先考慮不僅要滿足產品規(guī)格，但也創(chuàng)造了最可靠的最終產品的EMI限制其消極影響。
EMI / EMC是什么？
EMI（電磁干擾）時，會發(fā)生一個設備的電磁場有另一臺設備的操作產生不良影響。 EMC或電磁兼容性的電氣系統(tǒng)或移動設備以在電磁環(huán)境中正常運行，而不會受到由EMI，或與在其環(huán)境中的EMI影響其他設備的能力。
EMC內部電子元件已成為一個日益重要的問題，為嵌入式設計人員能夠抗衡。 作為系統(tǒng)頻率和更低的電源電壓增加的需要，在最終應用變得更易受的負面影響的EMI。 這些電的影響，可產生由任一輻射或傳導EMI源。 輻射的來源包括任何電子或機電，包括電機，電源線，天線，在PCB（印刷電路板）的痕跡，甚至在PCB上的硅元件。 傳導EMI主要示出了本身作為電氣“噪聲”的應用程序上的電源線，并可以在一個系統(tǒng)內的其他設備所造成的感應電壓尖峰。
傳導EMI的一個額外的元素是EFT（電快速瞬變）。 這會發(fā)生在交流電源線，并可以通過電容耦合或供應注射進入一個系統(tǒng)。 應用最典型的容易出現(xiàn)EFT電容或變壓器的電源。 無論是電磁干擾源可能會導致電“閉鎖”的系統(tǒng)應用程序和結果的不可預知的操作。 在最嚴重的情況下，這甚至可以導致完全失敗的裝置通過EOS（電氣超過應力）。
最終在一個特定的應用程序中的EMI，預防仍然嵌入式設計人員的責任。 這一點，首先實施的電路板設計好做法，包括適當?shù)腜CB布局和接地，走線長度的限制，電器元件的位置，以及選擇最EMI彈性硅產品。
Microchip的EMI防御
Microchip的持續(xù)改進的承諾，Microchip的EMI保護的一個直接結果是匯編了多年的EMI / EMC的工程經驗和嵌入式系統(tǒng)設計人員的直接反饋。 Microchip已經實施了多方面的方法來創(chuàng)建不敏感的EMI和限制EMI排放的電氣環(huán)境內的PIC微控制器。 防御EMI還采用了EFT，以及陣陣ESD（靜電放電）的方法來處理。
微芯片實現(xiàn)的嵌入式工程師所面臨的挑戰(zhàn)，并開發(fā)了技術，降低易感性EMI / EMC，并提供強大的產品在行業(yè)最電。
EMC Microchip產品的優(yōu)點
易于EMI / EMC驗證及測試的最新監(jiān)管法規(guī)
減少輻射EMI干擾
電增強的ESD和EFT保護屏障
更低的系統(tǒng)成本，減少PCB的濾波和隔離
電壽命長，可靠性強大的解決方案
更高的免疫力注入的噪聲和惡劣的電氣環(huán)境
與傳統(tǒng)Microchip產品的EMI / EMC等價
Microchip對進行了大量的EMI / EMC測試，以驗證PIC微控制器，dsPIC瀀坥信號控制器，模擬及存儲產品的電磁彈性。 是由一套完整的測試，確定的排放量和易感性的輻射和傳導電磁干擾環(huán)境以及ESD和EFT的變化，由于EMI / EMC特性。
結果
微芯的工程師了解現(xiàn)代嵌入式設計工程師面臨的諸多挑戰(zhàn) - 日程安排，會議產品的定義，限制了工程成本，創(chuàng)造最電的可靠的產品。 利用Microchip的產品在您的應用程序最小化所有這些設計挑戰(zhàn)提供了靈活的解決方案，易于設計，同時提供世界一流的電氣穩(wěn)定性。 任何應用程序可以實現(xiàn)Microchip的電性能穩(wěn)定的產品，特別是那些居住在電惡劣的環(huán)境中，如家電，汽車和工業(yè)應用程序的好處。 Microchip的貢獻證明了客戶的認可與現(xiàn)實世界的一個看似無限多的應用采用Microchip的產品設計的挑戰(zhàn)和不利影響的任何應用程序內的EMI限制。
典型的EMI測試結果-數(shù)據(jù)不言自明！
傳導EMI
輻射EMI
有了這么多的測試方法EMI，Microchip公司實現(xiàn)選定的行業(yè)標準測試方法被認為是最艱難的。 顯示的數(shù)據(jù)表明了傳導和輻射噪聲的一個典型的8位
閃存中檔PIC微控制器。